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碲锌镉像素探测器, 16通道ASIC评估系统
eV-MultiPIX™ 系统是一个多用途的16通道探测器测试平台。无论是平面型还是像素型探测器都可适用。该系统包含低噪音eV-330 16通道前放/成形放大专用集成电路（可输出五阶高斯波形）。可调节的积分时间以及通道增益以及集成于主板的可调高压电源使得该系统称为具有高度灵活性的测试平台。该系统可以配置两种标准像素探测器之一，可以是3mm或5mm的晶体厚度。 该系统是测试新的碲锌镉探测器设计和结构或评估 eV-330
ASIC 性能的理想平台。
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性能和特点
- +12V 电源供给
- 集成可调节高压偏压
- 1000 比 1 高压监视输出
- ASIC增益和积分时间灵活可调
- 通过BNC接口可输入外部标准测试信号
- 通过BNC接口输出碲锌镉信号
- 20针电缆线输出到分立接口，可以接通所有16通道的任意一个
- 最大技术率 500Kcps。
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CZT
尺寸 |
像素排列 |
像素尺寸 |
间距 |
分辨率 |
| 10.6 x 4.6 x 3mm3 |
4x1 linear array |
1.8 x 1.8mm2 |
2mm |
<6% @ 122KeV |
| 10.6 x 4.6 x 3mm3 |
4x1 linear array |
1.8 x 1.8mm2 |
2mm |
<5% @ 122KeV |
| 11 x 11 x 3mm3 |
4x4 2D array |
2 x 2mm2 |
2.1mm |
<6% @ 122KeV |
| 11 x 11 x 3mm3 |
4x4 2D array |
2 x 2mm2 |
2.1mm |
<5% @ 122KeV |
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