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性 能 测 试
技 术 资 料
Ø 室温半导体探测器；
Ø Zeff＝49.1；密度5.78 g/cm3；
Ø 对低能光子的高探测效率；
Ø 高分辨率：CPG 8.65KeV FWHM @661.6KeV (1.3%)；
Ø 探测信号直接转换，易与前端电子学结合；
Ø 可构成空间分辨率高的像素阵列探测器；
Ø 受环境因素影响小;
